極寬溫DDR4 DRAM模組
抵禦125°C高溫 



隨著許多進階工業應用的機構設計力求更加精巧,狹小的設備空間將使得系統散熱變得更加困難。
此外,像是高速運算與數據處理所產生的龐大熱能,更將不斷挑戰系統元件的耐熱程度。

為解決以上難題,宜鼎推出全新Ultra Temperature極寬溫DDR4 DRAM模組,
耐受溫度達-40°C至125°C,成為全球第一款超越傳統工業寬溫標準的記憶體模組。

全新Ultra Temperature極寬溫系列可為各式進階應用帶來更多研發創新的可能。

自駕車載系統
自駕車載系統

自駕車載系統對於數據處理的要求越來越高,隨之產生的龐大熱能,將加深系統散熱難度; 若能有效提升設備耐熱程度,將可有效確保系統效能。

無風扇系統

無風扇系統

無風扇嵌入式系統多應用在狹小的空間當中,難以額外安裝散熱裝置。唯有提升系統元件的耐熱程度,才能避免因為系統溫度過高而導致的系統當機或設備故障。

Mission-critical systems
關鍵任務 

無論是在不利電子設備運作的環境中,或是一般系統無法耐受的環境溫度下,關鍵任務系統都必須保有最高的耐受溫度,才能維持可靠的效能表現。

技術升級

宜鼎免費提供全方位技術升級,確保全新系列產品能在各類嚴苛環境中保有突出表現。

45µ”金手指

45µ”金手指

由傳統30µ”金手指升級為45µ”金手指,提供更加可靠、耐用的產品品質。

側面填充技術

側面填充技術

讓晶片與電路板之間的焊接點更加穩固,即使遭遇極端溫度或外力衝擊,都能穩定運作。

抗硫化技術

抗硫化技術

在零件上添加保護層,避免設備腐蝕與短路風險,達成最佳的隔離防護效果。

溫度感測技術

溫度感測技術

藉由內建溫度感測技術,可精準測量並追蹤元件溫度。

通過多項國際認證

全新極寬溫系列不僅採用原廠IC,更採用通過國際汽車電子協會AEC-Q200認證的零組件,亦通過多項第三方效能驗證,展現無可匹敵的強固與耐用性。

金手指插拔測試

金手指插拔測試

超過百次的金手指插拔測試

溫度衝擊與抗震測試

溫度衝擊與抗震測試

符合美國MIL-STD810G標準

摔落測試

摔落測試

符合國際安全運輸協會ISTA-1A標準

Bending Test

扳彎測試

通過EIAJ-4072扳彎測試

產品型錄

歡迎瀏覽Innodisk產品型錄,尋找最新的快閃儲存裝置、
DRAM、嵌入式周邊裝置,以及軟體解決方案。 

需要協助嗎?

請與我們聯繫,針對您的問題提供適當的協助。

©2021 宜鼎國際股份有限公司. 版權所有